おもしろ《ＳＥＭ写真集》 |
試料：カ−ボンファイバ
蒸着：なし
倍率：６００倍
蒸着：なし
倍率：１０００倍
蒸着：イオンスパッタ（白金）
倍率：４００倍
蒸着：なし
倍率：２００倍
蒸着：なし
倍率：３０００倍
試料：遺跡から出土した種子
蒸着：イオンスパッタ（白金）
倍率：３５倍
試料：竹炭
蒸着：なし
倍率：１１１倍
テニスラケットに使用されている、直径約５ミクロンのカ−ボンファイバです。
試料：鋼材の疲労破面
金属疲労の特徴である縞模様（ストライエ−ション）がはっきりとわかります。
試料：毛 髪
シャンプ−のテレビコマ−シャルでおなじみのキュ−ティクルも簡単に観察できます。
試料：ＬＳＩ（集積回路）
ＬＳＩのチップ構成や各種ディバイスのレイアウトパタ−ンが観察できます（４５゜傾斜撮影）。
試料：ＬＳＩ（断面）
ＭＯＳの断面観察をすれば、ＭＯＳ型トランジスタの構造（ゲ−ト、ソ−ス、ドレイン）がよくわかります。
肉眼ではわからない種子の微細組織も、ＳＥＭで観察すればはっきりとわかります。
竹炭のポ−ラス（多孔質）な微細組織が、ＳＥＭで観察すれば良くわかります。
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